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機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備光源的分類

發(fā)布日期:2018-09-20 內(nèi)容來(lái)源于:http://www.sffff.cn/

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機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備光源的分類

視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備

1、環(huán)形光源


環(huán)形光源提供不同照射角度、不同顏色組合,更能突出物體的三維信息;高密度LED陣列,高亮度;多種緊湊設(shè)計(jì),節(jié)省安裝空間;解決對(duì)角照射陰影問(wèn)題;可選配漫射板導(dǎo)光,光線均勻擴(kuò)散。應(yīng)用領(lǐng)域:PCB基板檢測(cè),IC元件檢測(cè),顯微鏡照明,液晶校正,塑膠容器檢測(cè),集成電路印字檢查


2、背光源


用高密度LED陣列面提供高強(qiáng)度背光照明,能突出物體的外形輪廓特征,尤其適合作為顯微鏡的載物臺(tái)。紅白兩用背光源、紅藍(lán)多用背光源,能調(diào)配出不同顏色,滿足不同被測(cè)物多色要求。應(yīng)用領(lǐng)域:機(jī)械零件尺寸的測(cè)量,電子元件、IC的外型檢測(cè),膠片污點(diǎn)檢測(cè),透明物體劃痕檢測(cè)等。


3、條形光源


條形光源是較大方形結(jié)構(gòu)被測(cè)物的首選光源;顏色可根據(jù)需求搭配,自由組合;照射角度與安裝隨意可調(diào)。應(yīng)用領(lǐng)域:金屬表面檢查,圖像掃描,表面裂縫檢測(cè),LCD面板檢測(cè)等。


4、同軸光源


同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影,從而減少干擾;部分采用分光鏡設(shè)計(jì),減少光損失,提高成像清晰度,均勻照射物體表面。應(yīng)用領(lǐng)域:系列光源最適宜用于反射度極高的物體,如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測(cè),芯片和硅晶片的破損檢測(cè),Mark點(diǎn)定位,包裝條碼識(shí)別。


5、AOI專用光源


不同角度的三色光照明,照射凸顯焊錫三維信息;外加漫射板導(dǎo)光,減少反光;不同角度組合;應(yīng)用領(lǐng)域:用于電路板焊錫檢測(cè)。


6、球積分光源


具有積分效果的半球面內(nèi)壁,均勻反射從底部360度發(fā)射出的光線,使整個(gè)圖像的照度十分均勻。應(yīng)用領(lǐng)域:合于曲面,表面凹凸,弧形表面檢測(cè),或金屬、玻璃表面反光較強(qiáng)的物體表面檢測(cè)。


7、線形光源


超高亮度,采用柱面透鏡聚光,適用于各種流水線連續(xù)檢測(cè)場(chǎng)合。應(yīng)用領(lǐng)域:陣相機(jī)照明專用,AOI專用。


8、點(diǎn)光源


大功率LED,體積小,發(fā)光強(qiáng)度高;光纖鹵素?zé)舻奶娲?,尤其適合作為鏡頭的同軸光源等;高效散熱裝置,大大提高光源的使用壽命。應(yīng)用領(lǐng)域:適合遠(yuǎn)心鏡頭使用,用于芯片檢測(cè),Mark點(diǎn)定位,晶片及液晶玻璃底基校正。


9、組合條形光源


四邊配置條形光,每邊照明獨(dú)立可控;可根據(jù)被測(cè)物要求調(diào)整所需照明角度,適用性廣。應(yīng)用案例:CB基板檢測(cè),IC元件檢測(cè),焊錫檢查,Mark點(diǎn)定位,顯微鏡照明,包裝條碼照明,球形物體照明等。


10、對(duì)位光源


對(duì)位速度快;視場(chǎng)大;精度高;體積小,便于檢測(cè)集成;亮度高,可選配輔助環(huán)形光源。應(yīng)用領(lǐng)域:VA系列光源是全自動(dòng)電路板印刷機(jī)對(duì)位的專用光源。

視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備光源選擇

1、需要前景與背景更大的對(duì)比度?–考慮用黑白相機(jī)與彩色光源

2、環(huán)境光的問(wèn)題?–嘗試用單色光源,配一個(gè)濾鏡

3、閃光曲面?–嘗試用散射圓頂光

4、閃光,平的,但粗糙的表面?–嘗試用同軸散射光

5、看表面的形狀?–考慮用暗視場(chǎng)(低角度)

6、檢測(cè)塑料的時(shí)候–嘗試用紫外或紅外光

7、需要通過(guò)反射的表面看特征?–嘗試用低角度線光源(暗視場(chǎng))

8、組合光源有時(shí)也能解決問(wèn)題

9、頻閃能夠產(chǎn)生比常亮照明20倍強(qiáng)的光


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